Jahrestreffen der AG Fraktographie im DVM/DGM

Jahrestreffen der AG Fraktographie im DVM/DGM

Jahrestreffen der AG Fraktographie im DVM/DGM Gemeinschaftsausschuss „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“

Brucherscheinungen an metallischen Werkstoffen – lebhafte und konstruktive Diskussionen

 

Zum 12. Mal fand das jährliche Treffen der AG Fraktographie im DVM/DGM Gemeinschaftsausschuss „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ an der Bundesanstalt für Materialforschung (BAM) statt. Unser Mitarbeiter Dr.-Ing. Benedikt Döbereiner vertritt uns dort seit vielen Jahren.

Auch beim diesjährigen Treffen wurden von Vertretern und Spezialisten aus ganz Deutschland interessante Themen verschiedenster Brucherscheinungen an metallischen Werkstoffen vorgestellt und im Auditorium lebhaft diskutiert. Die BAM ihrerseits präsentierte unter anderem Fortschritte der immer umfangreicher werdenden Fraktographiedatenbank. Einen besonders herzlichen Dank möchten wir an dieser Stelle an die Mitarbeiter der BAM für ihr Engagement richten!

Für unsere eigenen Aktivitäten und Angebote im Bereich der Schadensanalyse und Werkstoffanalyse bis hin zur Bruchmechanik sind die Teilnahme und die Diskussionen eine hervorragende Möglichkeit unsere internen Entwicklungsprozesse voranzutreiben und weiterzuentwickeln. Wir freuen uns auf das nächste Treffen im kommenden Jahr.

Die Arbeitsgruppe (AG) „Fraktographie“ ist im DVM-Arbeitskreis „Rasterelektronenmikroskopie der Materialprüfung“ zugeordnet und ein Bereich des gleichnamigen DVM/DGM-Gemeinschaftsausschusses. Die Leitung der Arbeitsgruppe obliegt der BAM Bundesanstalt für Materialforschung und Materialprüfung. Sie  wurde gegründet um mit Firmen und Forschungsinstituten, die im Bereich Fraktographie und Schadensfallanalyse arbeiten, einen regen interdisziplinären  Informationsaustausch zu pflegen. Eines der aktuell wichtigen Ziele der Arbeitsgemeinschaft ist die Erstellung einer Datenbank für Bruchflächen, die als Referenz zur Bruchflächenbewertung bei Schadensfällen genutzt wird.

Weitere wertvolle Informationen finden Sie unter:

https://dvm-berlin.de/index.php/arbeitskreise/rasterelektronen-mikroskopie-der-materialpruefung

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